TU BRAUNSCHWEIG
| Carl-Friedrich-Gauß-Fakultät | Informatik
Informatikzentrum

Beurteilung von Abhärtungsmaßnahmen durch Fehlerinjektion mit FAIL*

Betreuer Arthur Martens
Professor Prof. Dr. Rüdiger Kapitza
Projekt danceos
IBR Gruppe DS (Prof. Kapitza)
Art Masterarbeit
Status offen

Motivation

Non-volatile Random Access Memory (NVRAM) fasst eine Gruppe von Technologien zusammen mit denen Hauptspeicher realisiert werden kann, der auch ohne konstante Stromzufuhr seinen Zustand beibehält. Prominente Beispiele sind hier Intels 3D XPoint bzw. Optane Produkte sowie Bateriegestützte NVDIMM Module der Firma Viking. Daten im NVRAM lassen sich zurzeit jedoch nur mit Hilfe eines Dateisystems so ablegen, dass sie nach einem Neustart wiedergefunden werden können. Dadurch wird die Flexibilität und Leistungsfähigkeit von NVRAM jedoch nicht vollständig ausgeschöpft.

Um die Benutzerschnittstelle zu NVRAM zu verbessern wird am IBR an einem speziellen Speicherallokator namens DeNoVo Malloc gearbeitet. DeNoVo Malloc bietet eine ähnliche Schnittstelle wie der bekannte malloc-Aufruf, es stellt darüber hinaus jedoch sicher, dass persistente daten nach einem Neustart wiedergefunden werden können. Zusätzlich wird der allozierte Speicher von DeNoVo Malloc vor Bitkippern geschützt. Dadurch können wichtige persistente Daten auf unzuverlässiger hardware sicher abgelegt werden.

Aufgabenstellung

In Dieser Arbeit gilt es herauszufinden wie wie gut die Abhärtungsmechanismen von DeNoVo Malloc funktionieren. Um das Herauszufinden soll DeNoVo Malloc an den Betrieb ohne Betriebssystem angepasst werden. Anschließend sollen geignete, kleine Beispielanwendungen mit DeNoVo Malloc entwickelt und mit dem Fehlerinjektionswerkzeug FAIL* untersucht werden. Gegebebenenfalls sollen dann die Ergebnisse aus den Fehlerinjektionsexperimenten dazu genutzt werden die Zuverlässigkeit von DeNoVo Malloc weiter zu verbessern.

Links


aktualisiert am 21.02.2017, 14:21 von Arthur Martens
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